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電界放出形走査電子顕微鏡 SU8600
分析用3D冷陰極電界放出

電界放出形走査電子顕微鏡 - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 分析用 / 3D / 冷陰極電界放出
電界放出形走査電子顕微鏡 - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 分析用 / 3D / 冷陰極電界放出
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特徴

タイプ
電界放出形走査電子
応用
分析用
観察法
3D
電子源
冷陰極電界放出
検出器の特徴
反射電子, エネルギー分散型X線分析装置
その他の特徴
自動, 超高解像度
倍率

最大: 2,000,000 unit

最少: 20 unit

分解能

0.6 nm, 0.7 nm

詳細

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU8600 SU8600 は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 高輝度コールドFE電子銃と検出信号制御機能により、高コントラスト像を高い分解能で提供します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 低エネルギー観察条件での超高分解能像 高輝度のコールドFE電子銃により低エネルギー条件でも高い分解能を維持します。 セミインレンズ対物レンズとExB光学系による高効率信号検出により、低エネルギー/低電流条件でも高いS/Nの画像を提供します。 高コントラストの低加速反射電子像 ExB光学系と検出信号制御機能により、目的に応じて二次電子/反射電子信号を分離しての画像取得が可能です。 右の画像では3D NANDキャパシタ部の酸化膜と窒化膜の層構造を反射電子の組成コントラストで観察しています。 高速応答性反射電子検出 新規開発されたシンチレータ型反射電子検出器(OCD)は応答速度の向上により、観察部位を特定しやすくなりました。 右の画像は1秒未満の取得時間ですが、SRAMの下層配線とFin-FETの構造が確認できています。 スループット向上を支援する自動化機能搭載 SU8600は光学系の自動調整機能を搭載しており、ユーザーの操作負荷を低減します。また、オプション機能 ”EM Flow Creator”では、連続画像取得などの操作の自動化をサポートします。倍率やステージ位置などの条件設定、フォーカス/コントラスト調整などのSEM機能をブロック化し、それらを組み合わせることで一連の観察レシピを作成します。 レシピはブロックをドラッグ&ドロップし、フローのように配置することで作成可能で、レシピを実行することで自動観察を開始します ユーザビリティを支援する種々の表示機能 SU8600はデュアルモニターに対応。デュアルモニター使用時は1,280 x 960画素の画像を2画面で表示できるほか、最大6チャンネルの信号を表示することが可能です。 また最大40,960 x 30,720画素での画像保存(*)により、広い領域から高精細な情報を取得することが可能になりました。
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。