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電子顕微鏡 NE4000
分析用冷陰極電界放出CCD

電子顕微鏡 - NE4000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 分析用 / 冷陰極電界放出 / CCD
電子顕微鏡 - NE4000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 分析用 / 冷陰極電界放出 / CCD
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特徴

タイプ
電子
応用
分析用
電子源
冷陰極電界放出
検出器の特徴
CCD
その他の特徴
観測用, 圧電, ナノテクノロジー用, 高精度

詳細

日立NE4000 nanoEBACは、マイクロエレクトロニクスデバイスの配線、材料、コンポーネントの電気特性評価、EBAC解析、イメージングを行う電子ビームベースのプロービングシステムです。 電子ビーム吸収電流(EBAC)技術は、低レベルの層を直接プロービングすることなく、インターコネクトに沿ってオープン回路、高抵抗、ショートを特定するための迅速で効果的な方法を提供します。 EBAC技術は、電子ビーム電流を吸収するために、誘電体層を通過して下層のメタライゼーション層まで電子ビームを流します。FESEMの電子ビーム加速電圧は、誘電体層を通過するプロービング深さまたは浸透レベルを制御します。露出した上層のメタライゼーション上にプローブを1本置いて回路を完成させ、電子が配線を流れるようにする。 日立が特許を取得した差動EBACアンプとともにデュアルプローブを使用することで、ゼーベック効果による高抵抗やショートの観察が可能になります。 使いやすいデザイン - 直感的なGUI(Graphical User Interface)を採用。 - プローブの粗い位置決めは、内蔵のチャンバー内CCDカメラシステムで行います。 高画質 - 特許取得の高性能EBACアンプにより、高画質なEBAC画像を提供します。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。