分光学エリプソメータ UVISEL Plus / UVISEL Plus In-Situ

新しいUVISELのプラス:薄膜の測定のための参照ELLIPSOMETER 新しいUVISELのプラスの分光ellipsometerは薄膜のサンプルを正確に速く、そして測定するように設計されている新収図書の技術を含んでいる。 新しい電子データ処理および高速のモノクロメーターに基づいて、FastAcqの新しい技術は190からの2100nmへのサンプル測定が高リゾリューションで3分以内に、完了することを可能にする。絶えず測定の範囲に沿う分光決断を調節する可能性はより速くよりスマートなサンプルをスキャンすることを可能になり。 薄膜の測定の高められた柔軟性のために設計されていて、UVISELのプラスは50µmの可変的な角度、自動横の地図を描く段階およびあなたの適用および予算の必要性すべてに会うためにそれを拡張可能にさせる40から90°までいろいろな付属品に模造されたサンプルのためのmicrospotsを提供する。 容易なアップグレード可能性はあなたの未来の進行中のデマンドが高い適用に会うUVISELのプラスの認刻極印である。、またデータ収集および分析のスピードをあげるために直観的なワークフローを特色にする自動柔らかいインターフェイス最先端のDeltaPsi2ソフトウェア プラットホームによって運転されてUVISELのプラスは初心者からの専門家にユーザーが高精度のおよび感受性と薄膜の測定を行うことを可能にする。 UVISELのプラスは最終的な物質科学のための参照のellipsometerとして考慮される。