リニアポジショニングステージ 2860-200

手動式

クランプステージは、試験中に試験片の位置を正確に調整し割り出すために、試験機のベースに直接取り付けることができます。典型的な試験構成では、被試験アセンブリはX-Y DeepL変換器に取り付けられたPCBクランプステージに、あるいは試験機のベースに直接取り付けられ、リードプルグリップは移動クロスヘッドまたはアクチュエータのロードセルの下に取り付けられることになります。