分光学エリプソメータ alpha-SE

薄膜の厚さや屈折率を日常的に測定するために、このエリプソメーターは、サンプルを装着し、フィルムに合ったモデルを選んで「測定」を押すだけ。数秒で結果が得られます。 簡単な操作性 プッシュボタン式の操作に加えて、高度なソフトウェアが作業を代行してくれます。 パワフル 実績のある分光エリプソメーター技術により、他の技術に比べてはるかに高い信頼性で厚さと指数の両方を得ることができます。 フレキシブル 誘電体、半導体、有機物など、さまざまな素材に対応します。 手頃な価格 シンプルなサンプルシステムのための分光エリプソメトリー。 速い 何百もの波長を同時に数秒で収集し、すぐに結果を得ることができます。