VASE®は、半導体、誘電体、ポリマー、金属、多層膜など、あらゆる種類の材料の研究に使用できる、高精度で汎用性の高いエリプソメーターです。193~3200nmという広い波長範囲で、高い精度と正確さを兼ね備えています。波長と入射角を変えることで、以下のような柔軟な測定が可能です。
- 反射および透過エリプソメトリ
- 一般的なエリプソメトリー(異方性、リターダンス、複屈折
- 反射率(R)および透過率(T)強度
- クロス偏光R/T
- 脱分極
- 散乱計
- ミューラー・マトリックス(Mueller-matrix)
最高のデータ精度
VASEには、回転式アナライザーエリプソメーター(RAE)と特許取得済みのAutoRetarder®が搭載されており、比類のないデータ精度を実現しています。
高精度な波長選択
スキャニングモノクロメーターは、分光エリプソメトリー用に特別に設計されています。スピード、波長精度、光のスループットを最適化するとともに、波長の選択とスペクトルの分解能を自動的に制御します。
フレキシブルな測定
VASEは、垂直なサンプルマウントを備えており、反射、透過、散乱を含む多様な測定ジオメトリーに対応します。
オートリターダ®テクノロジー
回転型アナライザーエリプソメーター(RAE)は、Ψ/Δデータが豊富に含まれる「ブリュースター」条件付近でデータ精度を最大限に高めます。しかし、この領域はシグナルの少ないサンプルには限界があります。特許取得済みのAutoRetarderは、コンピュータ制御の波長板で、光ビームの偏光をサンプルに到達する前に変更します。これにより、どのようなサンプルでも、どのような条件でも、最適な測定条件を得ることができます。
AutoRetarderは正確に測定します。
- フルレンジでΨとΔを正確に測定します
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