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JC CHERRY INC.
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直接接触式試験用ソケット
ラッチロック
ねじ留め式
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特徴
特性
直接接触式, ラッチロック, ねじ留め式
詳細
デバイスのリードを基板に直接押し当てるコンタクト方式を採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケット。 ソケットの蓋をラッチとネジで固定する「ラッチロック・ネジロックタイプ」は、QFPデバイスの寸法に合わせた標準品をラインナップ。 短納期対応が可能です。 用途 - 量産基板への実装 - 実環境での最終試験・検査 (自動車、ロボット、モビリティ用電装品など) - ICの故障解析
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