イオン クロマトグラフィーデバイス用テストソケット

B1506A用カスタム測定ソケット - Keysight B1506Aパワーデバイスアナライザに対応 パワーデバイスのIV特性、CV特性を測定可能 - テストソケット、プリント基板、校正用ダミーデバイスの設計・製造が可能 - SMD（表面実装デバイス）を含む様々なデバイス形状に対応 B1506Aに実装するソケットモジュールの ソリューションです。 パルス：400A/DC：100Aの大電流に対応。 リーク電流を最小限に抑え、高精度な測定が可能です。 B1506A」は、パワーデバイスの特性を簡単かつ高精度に測定するために開発されたデバイスです、 B1506A」は、MOS-FETやIGBTなどのパワーデバイスの特性を高精度に測定するために開発された装置です。TO-220やTO-3Pなどの一般的なDIPタイプのデバイスには、標準モジュールが用意されています、 SMD(表面実装型デバイス)のような他のパッケージ形式のデバイスを測定する場合は、カスタムソケットモジュールが必要です。 高電圧や高耐熱性が要求される測定では、使用条件に応じてテストソケットの材質や基板の設計を慎重に検討する必要があります。 テストソケットだけでなく、プリント基板や校正用ダミーデバイスの設計にも実績があります。 OPEN/SHORTテスト用のプリント基板や校正用ダミーデバイスの設計実績もあり、様々なデバイスに合わせたソリューションを提供することが可能です。