3D解析ソフトウェア「Waveline Map」は、粗さの測定に加えて、ワークの特定のプロファイルや表面データを取得することができます。
イェノプティックのWaveline測定システムは、粗さや輪郭の測定に使用できます。また、この2つの機能を組み合わせたシステムも提供しています。ジェノプティックのWaveline T8000、Surfscan、Nanoscan測定システムは、トポグラフィー用の3D解析ソフトウェアで拡張することができます。Waveline Mapソフトウェアは、ワークの表面の質感をグラフィックとしてレンダリングし、評価することができます。
Waveline Mapは直感的なデザインで、簡単に操作できます。例えば、測定データは、アライメント、フィルタリング、形状除去などの前処理を行うことができます。評価ステップが変わると、すぐに自動再計算が行われます。このシステムには、広範な計量的および科学的フィルタリングオプションが用意されています。
3D解析ソフトウェアには、3つのバージョンがあります。Basic、Expert、Premiumの3つのバージョンがあります。ExpertおよびPremiumバージョンは、3Dパラメータに関するISO/TS 25178規格に準拠しています。
ソフトウェアに加えて、トポグラフィー測定にはY字型の位置決めテーブルが必要です。これにより、必要なワークピースの移動が容易になります。テーブルには最大30kgの重量の部品を搭載でき、約5μmのガイド精度で動作します。
メリット
- フレキシブル。必要に応じて、測定ステーションでの粗さ測定にも使用可能
- 簡単。直感的な操作が可能なソフトウェア
- 速い。評価ステップを変更しても自動的に再計算が可能
- モジュール式。3つのバージョンで構成されています。
アプリケーション
- 研究と開発トライボロジー研究による表面機能の最適化
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