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光学式検査機 Visionline F series
フラット サーフェス用産業用

光学式検査機 - Visionline F series - JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH - フラット サーフェス用 / 産業用
光学式検査機 - Visionline F series - JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH - フラット サーフェス用 / 産業用
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特徴

技術
光学式
応用
フラット サーフェス用
分野
産業用

詳細

平面の光学検査 Visionline Fセンサは、平面の自動検査用に特別に設計されています。フライオーバー技術により、画像取得は正確なサイクルタイムで動作中に行われるため、可能な限り短い検査時間を実現します。その高速性により、技術面の100%検査に使用されます。 平面センサーはワーク上を移動し、加工面の高コントラスト画像を生成します。革新的な画像記録技術により、表面のトポグラフィーが決定されるため、高いプロセス信頼性で、真正の表面欠陥と汚染を識別することが可能です。 センサー - ヴィジョンラインF100S、スキャン幅100 mm - ヴィジョンラインF200S、スキャン幅200 mm - ビジョンライン F400S、スキャン幅400 mm

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。