透過型電子顕微鏡 JEM-F200

分析用明視野式暗視野式

JEM-F200は、空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 特長 • Smart design JEM-F200 は『スマートさ』を追求した新たな装いになっています。 特に分析電子顕微鏡操作について、直感性を重視したユーザーインターフェースを新たに開発しました。 また、JEOL が積み重ねて追求してきたノウハウを設計に反映し、従来機に比べて機械的・電気的な安定性が大きく向上しました。 • Quad-Lens condenser system 近年の電子顕微鏡は、明視野・暗視野TEM法から多様な検出器を駆使するSTEM法といった幅広い手法に対応することが求められています。 JEM-F200 は4段集束レンズによる新しい照射光学系"Quad-Lens condenser system" を搭載することで、電子線強度と収束角を独立にコントロールすることにより、さまざまな要求に応えることができます。 • Advanced Scan system JEM-F200 は、通常の照射系電子線走査機能に加えて、結像系電子線走査機能（オプション）を有する新しい走査システム"Advanced Scan System" を搭載しています。これにより、広視野STEM-EELS を実現します。 • Pico Stage Drive JEM-F200 はピエゾ駆動機構を用いることなくピコメートルオーダーのステップで駆動可能なPico stage drive を搭載しており、試料メッシュ全体の視野から、原子像オーダーの視野まで、幅広いダイナミックレンジの視野移動が可能です。 • SPECPORTER (自動ホルダー挿入・取り出し装置) 試料ホルダーの出し入れは、特に初心者ユーザーにとって難しいとされてきた操作です。 JEM-F200は初心者ユーザーでも気軽に試料ホルダーの出し入れができるようにするためSpecPorter を搭載しました。 試料ホルダーを所定位置にセットし、スイッチ一つで安全にホルダーの挿入・取り出しができます。 • Improved cold FEG JEM-F200は冷陰極形電界放出形電子銃が搭載できます（オプション）。 高安定、高輝度、高エネルギー分解能を保証する冷陰極形電界放出形電子銃を用いることでEELS による化学結合状態分析を可能にし、高輝度電子線による分析時間の短縮、さらに光源由来の色収差を低減することにより高分解能での観察を可能とします。 • Dual SDD JEM-F200は高い分析感度を有する大口径シリコンドリフト検出器（SDD）を二本同時に搭載することができます（オプション）。 さらなる高感度化により、より短時間でダメージを抑えたEDS分析が可能です。 • Environment Friendly JEM-F200は透過電子顕微鏡として初めてECO モードを標準搭載しました。このECO モードは、装置を使用しない期間、最低限のエネルギー消費で装置を良好に維持し、消費エネルギーを節約するシステムです。 装置をECO モード状態にすることでエネルギー消費量を装置使用時の約1/5 に抑えることができます。 スケジューリング機能も有しており、指定の日時にECO モードから使用可能な状態に復帰させることができます。