走査型電子顕微鏡 JCM-7000
分析用3D卓上

走査型電子顕微鏡 - JCM-7000 - Jeol - 分析用 / 3D / 卓上
走査型電子顕微鏡 - JCM-7000 - Jeol - 分析用 / 3D / 卓上
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特徴

タイプ
走査型電子
応用
分析用
観察法
3D
構成
卓上
その他の特徴
観測用

詳細

開発の背景と主な特長 卓上走査電子顕微鏡は電機・電子、自動車・機械、化学・薬品を主体としたさまざまな分野で利用が広がっています。研究開発はもちろん、品質管理、物品検査といった製造現場と近接した職種で活用され、近年さらなる作業効率の向上、操作の簡便性、分析や計測性能の強化が求められています。 こうしたニーズに応え、JCM-7000 NeoScope™は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡(卓上SEM)として開発されました。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。 光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、より詳細におこなうことができます。 卓上SEM JCM-7000 で無処理でスピーディーに観察&分析! ~低真空(LV) 有効活用事例紹介~ 電気を通さない絶縁試料を無処理でそのままSEM観察してみませんか? JCM-7000を使った高分子材料、工業材料、鉱物、食品、生物/植物の低真空(LV)モードでの有効活用事例をご紹介します。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。