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光学式試験用プレート MOT-F Series

光学式試験用プレート
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特徴

特性
光学式

詳細

表面の合わせられた振動を除去するために上を弱める▪の広帯域振動 ▪の蜜蜂の巣中心の構造 密封されたコップが付いている▪のきれいな上 より低い自己の重量および高い剛性率の▪の高密度 ▪の残留圧力による表面偏向のない長続きがする耐用年数 ▪の容易な取付けおよび耐久性がある維持なしで使用しやすい 適用: ▪Scanningトンネルを掘る顕微鏡検査(AFM/LFM/STM) ▪Interferometry ▪Electronの顕微鏡検査

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カタログ

Optical Table
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23 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。