EDX顕微鏡 PSE
素材検査用相関

EDX顕微鏡 - PSE - JOMESA Meßsysteme - 素材検査用 / 相関
EDX顕微鏡 - PSE - JOMESA Meßsysteme - 素材検査用 / 相関
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
 

特徴

タイプ
EDX
応用
素材検査用
その他の特徴
相関

詳細

SEM-EDX:JOMESA PSE •データベースから粒子の情報を読み込む •HFDでマークされた粒子をSEM-EDXで直ちに分析 •オプション:フルスキャンもしくはHFDで検出した全粒子をスキャン •データベースに結果を保存
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。