光学式検査機
産業用欠陥測定用

光学式検査機 - JPT Opto-electronics - 産業用 / 欠陥 / 測定用
光学式検査機 - JPT Opto-electronics - 産業用 / 欠陥 / 測定用
光学式検査機 - JPT Opto-electronics - 産業用 / 欠陥 / 測定用 - 画像 - 2
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特徴

技術
光学式
分野
産業用
その他の特徴
欠陥, 測定用, 高速, 自動

詳細

六面検査機 多次元・多欠陥同時測定 業界トップクラスの高精度サブピクセル測定 カスタマイズされた画像処理アルゴリズムと適応バイナリ処理により、製品照度が不均一な場合でも高い検出ロバスト性を実現 検出可能な欠陥の種類:チッピング、シミ、形状異常、クラック、スクラッチ(2) ミリ秒単位の高速検出 非接触検査で、製品にダメージを与えない カスタマイズされた自動ローディングとアンローディング カスタマイズされた分配の大箱 カスタマイズされた履歴データと画像アーカイブ 製品紹介 受動部品(6面)の高速寸法・欠陥検査用に設計され、寸法検査分解能は±5μm(1)、欠陥検査分解能は±15μm(1)です。 (1) 視野角4.0mm×3.2mmの場合

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。