ケースレー光ソースメータ
ケースレー機器を利用すると、レーザ・ダイオード・モジュールをコスト効率よくテストできるLIV(光電流電圧)システムを簡単に構築できます。
•2520型パルス・レーザ・ダイオード・テスト・システム:パルス/連続LIVテスト用の印加/測定機能を提供する同期テスト・システム
•TECソースメータ、2510型および2510-AT型:レーザ・ダイオード・モジュールの熱電冷却器を制御することにより、温度の厳格な制御が可能
• アクティブな温度制御 :温度の変動を防止します。温度が変動すると、レーザ・ダイオードの主出力波長に変化が生じ、信号のオーバーラップやクロストークの問題に発展する可能性があります。
• 50 W TECコントローラ :テスト速度や温度設定点レンジが他の低パワー・ソリューションよりも優れています。
• フル・デジタルP-I-D制御 :温度の安定度が高く、単純なファームウェアの変更により簡単にアップグレードできます。
• 熱制御ループのオートチューニング機能(2510-AT型) :P、I、Dの各係数の最適な組み合わせを決定する際に、試行錯誤の実験は不要です。
• 広い温度設定点レンジ(–50℃~+225℃)と優れた設定点分解能(±0.001℃)と安定度(±0.005℃) :冷却光コンポーネント/サブアセンブリの製造テストのほとんどの要件を満たします。
• さまざまな温度センサ入力(サーミスタ、RTD、ICセンサ)に対応しています。 :幅広いレーザ・ダイオード・モジュールで一般に使用される各種温度センサに対応しています。
• AC抵抗測定機能 :TECデバイスのインテグリティを検証できます。
• 温度フィードバック要素の4線オープン/ショート・リード検知 :測定値のリード抵抗誤差をなくして、疑似故障やデバイス損傷の可能性を低減します。