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高解像度ビームプロファイラ LJ-X8000 series

高解像度ビームプロファイラ - LJ-X8000 series - Keyence
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特徴

特性
高解像度

詳細

2D検査 幅・段差・Rなど、断面形状(2次元プロファイル)に対する測定・検査を瞬時に実現。 3D検査 3D検査 3D形状を正しく認識できるため、体積などの測定はもちろん、凹凸や欠けなどの外観検査の安定化も実現。位置や傾きなども補正して検査が可能。
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。