硬さ試験用圧子 NanoFlip

NanoFlip ユニバーサル・ナノメカニカル・テスターは、高精度のXYZモーションでサンプルの位置決めを行い、フリップ機構でサンプルのイメージングを行います。InViewソフトウェアには、さまざまな試験プロトコルをカバーする試験メソッド一式が付属しており、ユーザー独自の新しい試験メソッドを作成することもできます。InForce 50 アクチュエーターは、真空環境でも常温環境でも同等の性能を発揮します。InView ソフトウェアにより SEM やその他の顕微鏡画像を記録し、機械的試験データと同期させることができます。革新的なFIB-to-Testテクノロジーにより、サンプルを90°傾斜させることができ、サンプルを取り外すことなく、FIBからインデンテーションテストへシームレスに移行することができます。 - 使いやすさを向上させるために、あらかじめプログラムされた大規模なナノメカニカル試験メソッド群 - 静電容量変位測定および電磁力作動用InForce 50アクチュエータ（交換可能なチップ付き - 100kHzのデータ収集レートと20µsの時定数を持つInQuest高速コントローラーエレクトロニクス - XYZモーションシステム - SEM画像と試験データを同期させるSEMビデオキャプチャ - 独自のソフトウェア統合型探針較正システムにより、迅速で正確な探針較正を実現 - Windows®10に対応したInViewコントロールおよびデータレビューソフトウェアと、ユーザー設計の実験に対応したメソッド開発ツール アプリケーション - 硬度と弾性率の測定（Oliver-Pharr） - 連続剛性測定 - 高速材料特性マップ - ISO 14577硬さ試験 - ナノ動的機械分析（DMA） - 定量的スクラッチ摩耗試験