硬度試験機 InSEM® HT

高温

InSEM HT高温ナノインデンテーション試験システムは、真空環境下でチップと試料を独立して加熱することができ、多くのSEM/FIBチャンバーまたはスタンドアロン真空チャンバーと互換性があります。最高800℃までの温度範囲で、極端な温度条件をその場でシミュレートして、一貫した信頼性の高い試験データを得ることができます。モリブデンホルダー上の単結晶タングステンカーバイトチップは、高温試験アプリケーションでの使用に最適化されており、いくつかの形状が用意されています。 - 静電容量式変位測定用チップヒーティング付きInForce 50アクチュエータと交換可能なチップを備えた電磁力アクチュエータ - 10mmサンプルサイズと真空対応サンプル取り付けシステムにより、最高800℃までのサンプル加熱が可能 - 100kHzのデータ収集レートと20µsの時定数を持つInQuest高速コントローラーエレクトロニクス - XYZモーションシステム - SEM画像と試験データを同期させるSEMビデオキャプチャ - 独自のソフトウエア一体型探針較正システムによる迅速で正確な探針較正 - Windows® 10に対応したInViewコントロールおよびデータレビューソフトウェアと、ユーザーが設計した実験用のメソッド開発ツール アプリケーション - 高温試験 - 硬さおよび弾性率測定（オリバー・ファー） - 連続剛性測定 - 高速材料特性マップ - クリープ測定 - ひずみ速度感度 産業分野 - 大学、研究所、研究機関 - 航空宇宙 - 自動車製造 - ハードコーティング - 原子力 - 軍事／防衛