パワー測定装置 HP-MSM-HB
濃度レベル放射

パワー測定装置
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特徴

測定
パワー, 濃度, 放射, レベル
技術
レーザー, 走査, CCD
応用
産業用, プロセス

詳細

高輝度ハイパワーレーザー用に特化し、HighBrillianceオプションで拡張:PRIMESのHighPower-MicroSpotMonitor-HighBrilliance (HP-MSM-HB)は、最大10kWまでのSMレーザーのパワー密度分布を集光面で直接測定できます。 マルチkWレーザーの焦点形状測定 高ビーム品質と高平均出力を持つNIRレーザは、レーザ材料加工においてますます採用されるようになってきています。これらのレーザーでは、20から数100マイクロメートルの範囲の焦点形状を達成することができます。GW/cm²までの出力密度に長期間耐えられる材料はありません。この放射線レベルでは、従来のスキャニング測定技術による解析は不可能である。PRIMESは、カメラベースの集光分析システムMicroSpotMonitor (MSM)に、特に微細集光高出力レーザ用のHighBrillianceオプションを追加しました。 HighPower-MSM-HighBrillianceは、マルチキロワットレーザーの集光ビームパラメータを20マイクロメートルから1ミリメートルの範囲で、フルパワーでも加工領域で直接測定します。 この目的のために、レーザーパワーの95%はビームスプリッターによって測定光学系を透過し、吸収されます。残りの5%は、測定光学系でさらに減衰され、内部の水冷式アブソーバーで破壊されます。数ミリワットのパワーを持つ部分ビームは、CCDセンサー上で拡大画像化される。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。