自動標本準備システム EM TXP

走査型電子顕微鏡用

ライカ EM TXPは、SEM、光学顕微鏡およびTEM観察用試料に向け、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置です。 試料の特定個所を狙った正確なミリング、切断、研削、研磨作業は、ターゲットを見失いやすくきわめて時間を要する難しい作業でした。ライカ EM TXPを使えば、このような微小領域のターゲットサンプリングが短時間で簡単に行えます。 ●微小ターゲットの正確な配置と調製 ●高性能実体顕微鏡による観察 ●多機能、セミ・オート機械式システムによる処理 ●断面の鏡面研磨工程は、自動制御により行うことが可能 ●高輝度なLEDリング照明