ポリマー標本準備システム EM TIC 3X
走査型電子顕微鏡用

ポリマー標本準備システム - EM TIC 3X - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 走査型電子顕微鏡用
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特徴

応用
ポリマー, 走査型電子顕微鏡用

詳細

EM TIC 3X のアップデートバージョンは、私たちのモットー「with the user for the user (ユーザーとともにユーザーのために)」に基づき、加工効率と柔軟性を実用的な方法で統合しました。 最新の EM TIC 3X の 2 倍になった加工速度は、5種類の試料ステージとの組み合わせにより、試料作製のニーズに効率よく柔軟に対応します。

カタログ

Leica EM TIC 3X
Leica EM TIC 3X
16 ページ
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 ページ
Leica EM TXP
Leica EM TXP
10 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。