走査型電子顕微鏡用標本準備システム EM TRIM2

走査型電子顕微鏡用標本準備システム - EM TRIM2 - Leica Microsystems GmbH/ライカ
走査型電子顕微鏡用標本準備システム - EM TRIM2 - Leica Microsystems GmbH/ライカ
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特徴

応用
走査型電子顕微鏡用

詳細

実体顕微鏡と角度調整済みの照明を備えた試料トリミング装置です。タングステン・カーバイドとダイヤモンド切削ツールのどちらでも使用できます。対象物部 分をセンタリングして、ブロック面を平坦に切削することができます。SEM用にはEM TRIM2だけで作業が完了し、そのまま顕微鏡にかけられます。TEMとLM用にはピポット・アームの角度を調節して試料をトリミングし、希望する形状を作 成します。作業はすべて実体顕微鏡で観察しながら行えます。

カタログ

Leica EM TRIM2
Leica EM TRIM2
8 ページ
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。