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素材分析用顕微鏡 DM1750 M
光学検査用正立型

素材分析用顕微鏡 - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 光学 / 検査用 / 正立型
素材分析用顕微鏡 - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 光学 / 検査用 / 正立型
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特徴

タイプ
光学
応用
検査用, 素材分析用
エルゴノミクス
正立型
その他の特徴
大型サンプル用

詳細

材料の研究観察にフォーカス 新しいLeica DM1750 Mはどんな環境においても、正確でスピーディに結果を出すためにデザインされています。 Leica DM1750 Mはシンプルで高い信頼性を提供するために設計されています。 タフな使用にも耐えるデザインと、高さのあるサンプルへの対応、明視野、斜め照明や偏光といった多様な観察法における光学性能が、高い次元でバランスされています。すべての落射照明はPower-LEDを光源とし、微細な傷や高さ情報の観察においても威力を発揮します。 パーフェクトな光源 落射ユニットのLED光源とビルトイン可変絞りの組み合わせは、発熱の少ない白色光と、きわめて長いライフタイムによる低コストを実現。明るさを変えても色温度は安定しています。 高精度な倍率切り替え 6穴または7穴のレボルバはすばやく、正確な倍率の切り替えを約束し、80mmまでの高さのサンプル観察を可能にします。高精度に製造されたレボルバは対物切り替え時の視野の維持においても、優れた性能を発揮します。 斜め照明観察で微小な傷や欠陥を検出 落射ユニット手前に位置する操作ボタンでは、簡単な操作で4分割されたLEDを制御できます。斜め方向からの照明を効果的に使うことにより、従来の観察法では検出が難しかった微細な傷や欠陥もより簡単に観察できます。 ウルトラハードなセラミックステージ ステージの表面はセラミックプレートが配置され、かつてなかった硬さ・頑丈さを実現しています。何年もにわたって耐久性を要求される産業分野での使用においても、あなたの時間とコストをセーブするための特別設計です。

カタログ

Leica DM1750 M
Leica DM1750 M
12 ページ
Leica DM2700 M
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12 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。