自動標本準備システム EM ACE200
薄膜フィルム製造用走査型電子顕微鏡用

自動標本準備システム - EM ACE200 - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 薄膜フィルム製造用 / 走査型電子顕微鏡用
自動標本準備システム - EM ACE200 - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 薄膜フィルム製造用 / 走査型電子顕微鏡用
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特徴

使用方法
自動
応用
薄膜フィルム製造用, 走査型電子顕微鏡用

詳細

SEMやTEM分析用の均質で導電性の高い金属やカーボンのコーティングが、ライカEM ACE200コーティングシステムほど便利なものはありませんでした。 スパッタコータまたはカーボンスレッド蒸発コータとして構成され、完全自動化されたシステムで完璧な再現性のある結果を得ることができます。ライカマイクロシステムズは、両方の分析方法を必要とする場合には、交換可能なヘッドを1台にまとめた装置を提供しています。 水晶振動子測定、遊星回転、グロー放電、交換可能なシールドなど、様々なオプションで低真空コータを完成させます。 主な特徴 完全に再現性の高い結果 自動化されたプロセス実行とアシストされたパラメータ設定 小さくてコンパクト コンパクトなデザインと小さなフットプリントでラボのスペースを節約 簡単クリーニング 取り外し可能なドア、シャッター、内部遮蔽、ソース、ステージ付き 簡単クリーニング 取り外し可能なドア、シャッター、内部遮蔽、ソース、ステージ付き

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カタログ

Leica EM ACE200
Leica EM ACE200
12 ページ
Leica EM ACE600
Leica EM ACE600
12 ページ
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。