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YX-4高精度の表示器は水晶の高いテストの精密に従って専門的に設計されている。それは二重回折の方法によって前姿勢の水晶のモノクロメーターを、改善したテスト定義を適用する。その精密は±15 〃、displayer適用する単一の破片の6ビットの表示を、最低の読書価値であるプロセス水晶の工場使用のために適した1つの〃である。
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x-ray orientation instrument for sapphire wafer
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