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X線結晶化システム JF-2

X線結晶化システム
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特徴

特性
X線

詳細

目的：X 線結晶分析装置は、主に 物質の内部微細構造を再付着するために使用されます。例えば、単一のcrの 方向、変形検査、物質の方向、 格子パラメータを測定し、測定は、ストレスなど残ります。

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