縦型膨張計 L75

レーザー

PicoシリーズのLinseisレーザーディラトメータの開発により、比類のない分解能と絶対精度が実現しました。 名前が示すように、解像度は、ピコメートル（0,3 nm = 300 ピコメートル）まで上がります。 つまり、最新の解像度と比べて 33,33 倍以上の解像度を得ることができます。 また、 干渉測定の原理は、特にいくつかの特殊なコンピュータ校正が使用されるため、はるかに高い精度の可能性を与えます。 Linseis L75/LASERはサンプルのわずかな加工のみを必要とします。 あなたがする必要があるのは、従来のプッシュロッド型の膨張計と同様に、1つのサンプルを準備するだけです。 システムには、特定のサンプルジオメトリは必要ありません。 反射または反射なしのすべてのタイプのマテリアルは、システムで評価できます。 測定原理は「絶対測定」であり、従来のダブルサンプルプッシュロッド・ディラトメータとは異なり、はるかに高い精度を提供します。 従来のディラトメータとは異なり、校正を行う必要はありません。