レーザービーム誘起電流・電圧(LBIC/LBIV)測定システムは、太陽電池の特性評価において重要な測定技術であり、誘起電流(電圧)分布を測定することができます。太陽電池の誘導電流(電圧)分布、光電素子の量子効率や抵抗分布、素子の吸収特性や電荷発生の微小領域特性の研究、太陽電池材料と半導体の接合品質など、さまざまな種類の欠陥の分布や均一性を分析することができます。これにより、太陽電池素子の特性や欠陥分布の把握が可能となり、プロセスの改善に貢献することができます。
特徴
- 異なる画像補間による2D/3Dのボイタージュ/電流分布の誘導
- 開放電圧(Voc)と短絡電流(Lec)の分布を解析します。同じバンドギャップを持つ吸収体では、LBIV強度は局所的な開放電圧(Voc)に比例します。シャントポイント/エリアの評価は、c-Si、uc-Si、薄膜太陽電池の解析も可能です。
- レーザー出力、スキャンステップ、スキャンポイントの留置期間を調整可能
- 複数の波長のレーザー(405nm、532nm、660nmなど)を搭載し、3次元の深さ方向の電圧/電流イメージをマッピングしたり、フォトルミネッセンス・スペクトルの特性を分析したりすることが可能(オプション)。
- バンドギャップの温度係数を測定するための温度制御プラットフォームとの統合(オプション)
- 光誘起劣化(LID)の調査(オプション)
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