X線分光器 Epsilon 1

蛍光X線エレクトロニクス産業用検査用

電子装置、玩具、貴金属、岩石、または最終製品の微小な物質や包有物の元素分析を行う必要がありますか？ Epsilon 1 for Small Spot Analysisは、小型の蛍光X線分析装置で0.8 x 1.2 mmサイズのスポットを分析でき、柔軟で正確なスポットオン分析に最適な分析ソリューションです。 一体型で設置面積が小さいため、Epsilon 1はサンプルのそばに設置することができ、製造場所、採掘現場、店舗のカウンター、または犯罪現場の法医学検査でも理想的なソリューションになります。 分光計の性能は産業界のさまざまな指令や規制(電子機器用のRoHS-3や消費用のCPSIA)で必須の標準的なテスト方法に対応しています。 堅牢で柔軟な定量化 RoHS-3、WEEE、ELV、玩具、貴金属、岩石および最終製品の点検など、さまざまな用途にスポットオンの結果を得ることができます。 これは、Omnianにより実現できます。Omnianは、PANalyticalの市場をリードするスタンダードレスな分析ソフトウェアパッケージであり、高度なXRF装置でも使用されています。 すぐに使用できるソリューションであるOmnianは、周期表のナトリウムからアメリシウムまでさまざまな元素組成を分析するために使用されています。 専用のキャリブレーションに基づいて、ASTM F2617 (RoHS)などの国際的なテスト方法に準拠し、また、ASTM F963 (玩具)およびIEC 62123 (電子機器)の仕様に従ってスクリーニングすることができます。 RoHS-3のASTM F2617-15準拠 XRFは、有害物質や化合物のスクリーニングおよび定量化のために確立されたソリューションです。 電化製品中の有毒金属含有量は、RoHS-3、WEEE、ELV、Administration on the Control of Pollution Caused by Electronic Information Products (中国版RoHSに相当)などの国際的指令、およびその他の同様の指令により規制されています。 これらのすべての指令は範囲が多少異なりますが、カドミウム、鉛、水銀、六価クロム、および臭素化フェニル酸難燃剤を制限している点は共通しています。 ASTM F2617-15は、規制物質や化合物の濃度を定量化する一般的な方法です。 当社のデータシートでは、0.8 x 1.2 mmのスポットサイズの分析でも、Epsilon 1の機能がASTM F2617-15に準拠していることを実証しています。