計測学用ソフトウェア Metrolog X4

寸法測定分析レポート編集機能付測定用品質管理

互換性のある接続性：すべてのデバイスに対応 すべてのポータブルデバイスに対応 100種類以上のデバイスインターフェースを用意 アーム、レーザートラッカー、P.O.D.システム すべてのブランドに対応 マルチコネクション 測定器の切り替えが簡単にできる ハイパフォーマンス：大規模なデータセット 大量のデータによる遅延やボトルネックを解消します。これからの時代は、CADファイルであれ、光学センサーで計測した点群であれ、データ量と処理量が爆発的に増加します。 Metrolog X4の64ビットアーキテクチャは、使用可能なメモリをすべて使用し、最適化を行い、常に限界に挑戦しています。圧倒的なパフォーマンスと圧倒的な使いやすさを実現しています。 このソフトウェアアーキテクチャは、2つの重要な利点をもたらします。 重いCADファイルを読み込んで処理する。 大量の点群をデシメーションなしでインポートして解析する。 エンドユーザーがスムーズに操作できるように強化されたインターフェース。 オペレーターのニーズ、マシンタイプ、測定タイプに合わせて、完全にカスタマイズ可能なユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェース。 新しいマニュアルプロービングウィザード。 撮影時のビューの自動調整 複数の情報ウィンドウ（位置情報と結果）。 ソフトウェアは19カ国語に対応しており、その場で切り替えることができます。