レーザーマイクロメーター optoCONTROL 2520
光学式厚さ多機能

レーザーマイクロメーター - optoCONTROL 2520 - MICRO-EPSILON - 光学式 / 厚さ / 多機能
レーザーマイクロメーター - optoCONTROL 2520 - MICRO-EPSILON - 光学式 / 厚さ / 多機能
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特徴

タイプ
レーザー, 光学式
測定対象
厚さ, 多機能
ディスプレイ
デジタル ディスプレイ, アナログ
その他の特徴
高精度, コンパクト, 高速
測定可能範囲

最少: 46 mm
(1.811 in)

最大: 95 mm
(3.74 in)

分解能

最少: 1 µm

最大: 1 µm

詳細

optoCONTROL 2520 は、コントローラが統合されているコンパクトなレーザーマイクロメーターです。分解能が高く、測定範囲は 46 mm で取付け距離が可変式なので、品質モニタリングや生産チェックにおける使用領域が多岐に渡ります。測定対象物はライトカーテンの範囲内のどの位置にあってもよく、トランスミッターからレシーバーまでの距離も自由に選択いただけます。 "インターフェースには RS422 および Ethernet/EtherCAT が使用でき、 コンフィグレーションはウェブインターフェースを介して快適に行えるので、測定値や限界値の表示や、測定プログラムの選択、フィルタの適用といった作業を簡単に実行することができます。また、測定タスクもビデオ信号で難なくセットアップが可能です。"
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。