マイクロン光学 FFP-SIファイバファブリペロー走査干渉計は、光ファイバに直接堆積される2つの高反射多層ミラー間のシングルモードファイバ導波路を備えたレンズレス平面ファブリペロー干渉計です。 キャビティは完全にファイバ導波路で構成されており、非常に広い範囲のフリースペクトル範囲(FSRs)を可能にし、アライメントやモードマッチングは必要ありません。
波長スキャニングは、積層された圧電アクチュエータを使用して、キャビティ内の短い部分の繊維を軸方向にひずみすることによって達成されます。 100Hz 以上のスキャン周波数を使用すると、レーザチャープやジッタなどの過渡光学現象を直接測定できます。 長期間にわたる安定した繰り返し可能なスキャンにより、レーザドリフトなどのゆっくりと変化する光学現象を直接測定できます。
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