新製品カムサイザーX2を導入することで微粒子の品質管理が飛躍的に向上します。粒子の大きさと形を正確に早く、簡単に分析することができるため、原料の精査が可能になり、品質が向上し不合格品が減ります。そのために費やす労力と時間を節約できます。 カムサイザーX2は、ご好評をいただいております弊社の画像解析式粒子径測定装置カムサイザーのデザインをそのまま踏襲し、測定範囲を大幅に広げました。 (0.8 µm ~ 8 mm). 解像度を高めただけでなく、様々なサンプルに対応できるように開発され、測定可能な対象サンプルを増やしました。微粒子は凝集しやすいため、個々の粒の特 質を記録するのは難しいものです。そのため、測定時には凝集を防ぐため粒子を分散させながらも、個々の粒子を傷めないよう配慮する必要があります。 そこでカムサイザーX2は様々な粒子の性質に合わせ、粒子を傷めない最適な分散モジュールを選択できるX-Changeシステムを採用しました。 X-フォールはあまり凝集しない性質の粒子を、自由落下させます。最も試料に優しい方法です。X-ジェットは圧縮空気を調整しながら分散させることができ ます。X-フローは液体中でポンプと超音波を使って試料を分散させます。
長所
2台のCCDカメラを使った、特許取得の画像解析方式 ( ISO 13322-2準拠)
測定範囲:0.8μm ~ 8mm
最新の光学システムを採用した超強力LEDで、高解像度。微粒子もシャープに撮影。
極微量しか存在しないスペック外のサイズの粒子も精度の高い検出が可能
短時間での測定、1~3分
乾式と湿式のモジュールを交換できるX-Changeシステム
試験ふるいを使った分級結果との高い互換性
直観的に操作可能な使いやすいソフトウェア
多言語ソフトウェア (ドイツ語、英語、日本語(一部) その他)
詳細な粒度解析。結果を1000以上のサイズに分類可能。
粒子の大きさ、形、数、密度、透明度を同時に測定