平坦度測定用干渉計 VI-direct

光学式デジタルレーザー

マイクロ干渉計VI-directは、平坦度検査の範囲を最小径の領域まで広げます。フィゾー型干渉計は、直径約0.8mmから3.6mmの光学部品の表面平坦度を測定することができます。コストパフォーマンスに優れたマイクロ干渉計VI-directは、マイクロプリズム、レーザー結晶、ファイバー端面などの光学部品の検査に使用できます。 - USB 3ポート経由でPCに直接接続、フレームグラバー不要 - 高解像度のデジタルカメラ（3088x2076ピクセル） - 露光時間が短いため、振動の影響を受けにくい - 豊富な光学・機械アクセサリー - 垂直、水平、斜め下で使用可能。このため、お客様固有の用途に使用できる極めて汎用性の高い装置となっています。 - コンパクトな設計のため、干渉計はアプリケーション固有のワークステーションへの統合に適しています。 - INTOMATIK-Sによる目視またはオプションのソフトウェアサポートによる評価 - 光源：ファイバー結合、非安定化He-Neレーザー (λ=632.8 nm)