金属顕微鏡 MX-41i
光学倒立型DIC 微分干渉

金属顕微鏡 - MX-41i - multitektechnologies - 光学 / 倒立型 / DIC 微分干渉
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特徴

タイプ
光学
応用
金属
エルゴノミクス
倒立型
観察法
DIC 微分干渉

詳細

倒立型顕微鏡シリーズには、お客様のご要望や検査目的に応じて、オートステージ、カメラ、ソフトウェア、試料調整用治具、BF、DF、DIC、偏光板などのモジュールなど、さまざまな機能、アクセサリ、コントローラ、セットアップが付属しています。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。