光学顕微鏡 MX-SZ3M

素材分析用コンピューター制御式電動式

粒子の長さ、幅、高さを測定し、走査ステージとフォーカスドライブの電動化以外の電動顕微鏡機能は必要ありません。高解像度の光学系により、5μmまでの粒子を測定することができます。3次元の情報も得られます。 システムの特徴 - 分析に高開口数の対物レンズを使用することによる高い光学性能 - ISO規格に準拠した5μmまでの粒子の検出が可能 - 粒子の高さを評価し、全体的なリスクポテンシャルを推定 - 反射性（金属）粒子と非反射性（プラスチック）粒子の区別が可能 - 各構成の倍率やカメラの設定を自動で保存 - 手動顕微鏡システムは、メタログラフィーやその他の顕微鏡用途にも使用可能 -将来の最小粒子径の要求に対応するため、高倍率かつ低キャリブレーション値の持続可能なシステム。