原子間力顕微鏡 NaioAFM

測定教育用表面粗さ測定用

NaioAFMは、ナノ教育や微小サンプルの基礎研究に最適な原子間力顕微鏡です。このオールインワンAFMシステムは、誰にでも、どんな場所にもフィットする価格と設置面積で、確かな性能と簡単な取り扱いを提供します。 - プラグアンドプレイAFMシステム - すべての標準動作モード - 簡単な操作 プラグアンドプレイAFMシステム NaioAFMシステムは、コントローラ一体型の小型防振プラットフォームに搭載されたスキャンヘッドのみで構成されています。セットアップと測定準備にかかる時間はわずか数分です。大学の講義や教室での使用に理想的なNaioAFMは、頑丈に設計されており、初心者の不注意な取り扱いにも影響されません。 すべての標準操作モード NaioAFMは、その基本設計にもかかわらず、多彩な測定モードを備えています。NaioAFMは、すべての標準的な動作モードで測定が可能であり、基本的な電気的特性評価や基本的な力スペクトロスコピーを実行することもできます。これからAFMを学ぼうとしている方、あるいは研究のために基本的なAFM機能のみを必要とする方にとって、NaioAFMは10年以上にわたって選ばれ続けている装置です。 わずか10分で習得 NaioAFMは最も使いやすい原子間力顕微鏡です。カンチレバーアライメントチップのようなハンドリングサポートが組み込まれているため、このAFMを測定用にセットアップするのに完璧な安定した手さえ必要ありません。レーザーアライメントも必要ありません。すべてを接続し、カンチレバーとサンプルを置くだけで、数分で最初の結果が得られます。