AFM顕微鏡 Alphacen 300

産業用自動

Alphacen 300システムは、大きな試料や重量のある試料にも容易に対応できるユニークなAFMソリューションです。サンプルの大きさや重さに関係なく、高性能なイメージングを可能にする先端スキャナ設計のフレックスマウントスキャンヘッドを搭載しています。ナノサーフの最先端AFMコントローラーであるCXコントローラーは、スキャンプロセスを高速かつ正確に制御します。専用の音響エンクロージャーは、外部ノイズや振動を低減します。さらに、特定のサンプルに合わせて並進軸や回転軸を追加して、システムをさらにカスタマイズすることも可能です。 このような汎用性と機能性を備えたAFMシステムは他にはありません。 - 先端スキャナーの設計により、サンプルの大きさや重さに関係なく高品質のイメージングを実現 - 最大300 mm x 300 mm、45 kgまでの試料に対応 - 外部ノイズや振動を最小限に抑える専用防音筐体 - カスタムソリューションのベースとして使用可能 研究グレードの先端スキャナ設計 アルファセン300は、ナノサーフのFlexAFMの実績ある研究用スキャンヘッド技術を採用し、高品質のイメージングと信頼性の高いパフォーマンスを実現します。このスキャナーの特長は、フレクシャーベースの先端設計により、フラットで直線的なスキャン、高解像度、安定した動作を保証することです。 大きくて重いサンプル アルファセン300は、大きな試料や重い試料にも対応できる探針走査型AFMです。最大300 mm x 300 mm、最大45 kgまでのサンプルを測定できます。また、50 mmのZアプローチステージにより、厚みのあるサンプルも問題なく取り付けられます。