AFM顕微鏡 Nanite
測定分析用検査用

AFM顕微鏡 - Nanite - Nanosurf - 測定 / 分析用 / 検査用
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特徴

タイプ
AFM
応用
表面検査用, 検査用, 素材検査用, オンライン ウェハー検査用, スチール検査, 製造ライン用, 分析用, 測定, 計測学用, 表面粗さ測定用, 3軸測定, 産業用
構成
コンパクト
その他の特徴
高解像度, 自動, スライディング ステージ, 地形測量用, 研磨サンプル用, 大型サンプル用, ウェハー用, 高精度

詳細

表面形状は、数ナノメートルの微細な形状や1ナノメートル以下の表面粗さを持つ多くのハイテク表面にとって重要な特性です。Naniteは、あらゆる形状やサイズのワークピースの表面分析に最適なツールです。ナノスケールの高精度測定を実現し、それ自体が小型であるため、事実上あらゆる環境に組み込むことができます。 ナノスケールでの定量的表面分析 ナノスケールでの正確な表面分析は、ナノテクノロジーからデータストレージ、精密光学に至るまで、さまざまな産業で不可欠です。Naniteは、さまざまなアプリケーションに不可欠なサブナノメートルの粗さを含む、ナノスケールの複雑な表面の詳細を明らかにするための貴重な装置です。 サンプル制限 - なし 品質管理や工程管理では、小片に分割できない大きな部品やコンポーネントの分析が必要になることがよくあります。Naniteは、大きなサンプルでも複雑な曲線でも、ワークピースの完全性を損なうことなく正確な測定を保証します。Naniteを使用することで、分析プロセス全体を通して試料が無傷のまま変化しないことを信頼することができます。 無限に近い統合 コンパクトなNaniteAFM(48 x 87 x 61 mm未満)は、既存のユーザーシステムまたはナノサーフのエンジニアが設計したカスタムステージにシームレスに統合できます。この柔軟性により、研究者は、多くの場合、大幅な変更を加えることなく、既存のワークフローにAFM機能を組み込むことができます。さらに、この装置のスクリプト・インターフェースにより、ユーザーはAFM制御を既存のセットアップに統合したり、ナノサーフの専門知識を活用してステージ設計や自動化機能を利用したりすることができる。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。