AFM顕微鏡 Flex-Mount

産業用高解像度自動

Flex-Mountは、大型の非平面試料や要求の厳しい試料の高分解能情報を取得するために構成できるユニークなAFMです。Flex-Mountソリューションは、Nanosurf FlexAFMスキャンヘッドの優れた分解能と性能と、Nanosurf NaniteAFMの統合性を組み合わせたものです。その結果、チップスキャンAFMは、Nanosurfの特注大型電動並進ステージのいずれかに簡単に取り付けることができ、他のAFMシステムでは事実上扱えない重量や寸法のサンプルの表面を特性評価することができます。 - 産業環境において実証された性能と信頼性 - 最大限の柔軟性を実現する先端スキャン設計 - 自動化機能 - 統合のための専用設計 - あらゆる重量と寸法のサンプルを測定 研究グレードの統合用スキャンヘッド Flex-Mountは、ナノサーフで最も広く使用されている研究用スキャンヘッド、FlexAFMをベースにしています。フレックスベースの先端スキャナーは、フラットでリニアなスキャン、高分解能、安定した動作を実現します。 カスタムステージによる無制限の自由度 お客様のアプリケーションに合わせて設計された理想的な自動AFMソリューションを入手したり、Flex-Mountを既存のステージシステムと統合することができます。ナノサーフは、非常に特殊な要件を持つ産業界のお客様のために、統合ソリューションとカスタム開発を提供するリーディングカンパニーです。 大型、非平面、曲面試料 Flex-Mountと適切なステージを組み合わせれば、どのようなサイズのサンプルでも高精度な測定が可能です。スキャンヘッドを傾けることで、必要な軸を自由に動かすことができるため、曲がったサンプルでも簡単に測定したい部分に到達できます。