さまざまなサンプルをカバーする汎用モデルです。μm台の公差管理を高速/高精度/使いやすく行えます。
さまざまなサンプルをカバーする汎用モデル
専用光学系とTTLレーザーAFを標準搭載。サンプルサイズに応じてストロークの異なる3モデルをラインアップしています。多様な測定ニーズに対して高速·高精度な測定を実現します。
6種類の高NA光学ズームヘッド
専用設計された6種類の高NA光学ズームヘッドから目的に応じてお選びいただけます。
TTL (Through The Lens) レーザーAF
多用途に対応する画像AFに加え、高精度・高速高さ測定も可能なTTL レーザーAFを標準搭載しています。
多彩な照明方法
サンプルに合わせた照明条件の設定が可能。難しい形状でも正確にエッジを検出します。
サーチ機能
サンプルの置き方や部品の位置ズレを自動補正。スムーズな連続自動測定を実現します。