厚さ測定システム M-thick

光学干渉ガラス用

ウォール・シックネス m-Thickの光学センサは、コーティングを含むあらゆる透明または半透明の素材の総厚さを測定します。ガラス産業での主な用途は以下の通りです。 TFT、LCDパネル 電子機器用薄型ガラス 製薬用チューブ、照明用チューブ 時計用ガラス板 M-thick干渉計は、生産ラインやQA/QCラボで、ガラスパネル、チューブ、物体の総厚さを測定することができます。測定は非接触で行われ、マイクロメートル単位の精度が得られます。 優れた点 反射方式のため、対向するヘッドを必要としない 対向ヘッド - 高い精度 - オペレーターにとっての安全性（非電離・非放射性光 非イオン化、非放射性の光) - 操作が簡単 - 複数ヘッドのレイアウト - 実験室や生産ラインへの迅速な統合 ライン