低抵抗測定器 Loresta-GX MCP-T700

研究開発用卓上自動

ロレスタ-GXは、材料の評価基準の一つである抵抗率の測定を行う計測器です。 　科学技術の発達とともに、研究開発はもちろん、生産技術、品質管理の分野でますます厳密な高い精度の材料の管理が、短時間で、簡単にできることが求められるようになりました。その中で材料の状態・性質を示す指標として抵抗率（表面、体積、導電率）があります。この抵抗率を補正係数を用いて簡単に精度よく測定が出来る装置がLoresta-GXです。 本装置はJIS K 7194に準拠した測定法になっており、各種プローブにより導電性プラスチック、ITO薄膜、シリコンウェーハなど幅広い材料の測定が可能です。 従来の4端子法とは異なり、測定対象への電極作製を必要とせず、当社の用意する各種4探針プローブを使用することで、ワンタッチで抵抗率測定が可能です。 主な測定対象 ■導電性プラスチック、電磁波シールド材料、シリコンウェーハ、導電性ゴム、 導電性塗料、ペースト、インキ、金属系薄膜、ITOガラス、フィルム等