カーブ半径測定機

光学自動

ゆがみの光学の、非接触の測定および（1600 x 1200） mmまでのサイズの標本の弓 概要 システムは横の湾曲（ゆがみ）の無接触の、光学測定上塗を施してあるフロート ガラスの基質のために設計されている。その測定のために異なった測定ポイントの高さは評価される。 ゆがみは高低ポイント間の同様に計算された相違である。 ハードウェア 測定システムに標本のための接触の表面として支承板がある。最高の基質のサイズは1600のmm X 1200のmmである。 支承板の非平坦は100ミクロンである。支承板の構造は標本の容易なローディングそして荷を下すことを可能にする。基質の厳密な終わりの再生可能な位置のために役立つピンを停止しなさい。 コーティングの異種の反射が原因で、ソフトウェアは表面の高低反映区域を同様に処理できる。 ゆがみの測定は測定プロシージャを始めた後制御されるフル オート ソフトウェアを動かす。測定システムは完全な基質区域をスキャンできる。 装置は振動に対して無感覚で、生産の条件の下で使用することができる。 装置の操作は供給の規模に属するコンピュータによって制御される。