幅広い保護リレーに対応した包括的なテストテンプレートライブラリ
OMICRON Control Center、XRIO、LinkToXRIOを含むオミクロンのソフトウェア技術により、ユーザーは実際のリレー設定に自動的に適応する特定の試験テンプレートを作成することができます。この機能は、幅広い保護リレーに対応した包括的な試験テンプレートライブラリである保護試験ライブラリ(PTL)の技術的基盤となっています。PTLを使用すると、試験計画や公称特性をゼロから作成する必要がないため、大幅な時間短縮が可能になります。
PTLのテストテンプレートには、すべての重要な保護機能に関する完全なテストプラン、XRIOコンバーター、パラメーターインポートフィルタが含まれています。XRIO Convertersは、保護デバイスのマニュアルに記載されているパラメータと技術データに基づいて、保護特性と公差(インピーダンスゾーン、I/tダイアグラムの形状など)をモデル化します。パラメータの構造がリレーソフトに近い形でモデル化されているため、特定の設定を見つけることは非常に簡単です。さらに、特殊なフィルターにより、リレー設定をリレーメーカーのソフトウェアから直接インポートすることができます。
PTLテストテンプレートは、オミクロンのエキスパートと外部の専門家によって開発されました。ライブラリの内容は継続的に拡張・維持されています。そのため、PTLのユーザーは、テストテンプレートに含まれる広範なアプリケーション知識から利益を得ることができます。PTLのテストテンプレートは特定のニーズに合わせてカスタマイズでき、XRIOコンバータはユーザーが作成したテストプランだけでなく、単独のテストでも使用できます。
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