据え置き型厚さ計 CL-2400

デジタル ディスプレイ卓上型

CL-2400はコンダクターの測定、アルミニウムディスクのような、およびシリコンの薄片のような半導体のために、設計されている。 厚さは測定の下の材料が2台の反対のギャップセンサーの間で形作られるギャップを通ると同時に測定される。 CL-2400は空電か連続した厚さの測定に使用することができる。 BCDの出力、RS-232Cインターフェイスおよびリモート・コントロール入力は外部制御、分析および測定のオートメーションに提供される。