分析ソフトウェア Discover® Defect
モニタリングリポーティング用検査用

分析ソフトウェア - Discover® Defect - Onto Innovation Inc. - モニタリング / リポーティング用 / 検査用
分析ソフトウェア - Discover® Defect - Onto Innovation Inc. - モニタリング / リポーティング用 / 検査用
分析ソフトウェア - Discover® Defect - Onto Innovation Inc. - モニタリング / リポーティング用 / 検査用 - 画像 - 2
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特徴

機能
分析, モニタリング, リポーティング用, 検査用, 計測学用, 異常検知用, 包装
応用
プロセス, アラーム, 包装産業用, LED測定
タイプ
リアルタイム

詳細

Discover® Defect Softwareは、そのインテリジェントなリアルタイム分析技術により、生データに実用的な価値を与えます。インラインモニタリング、アラーム、レポートはすべての検査ツールに標準装備されており、また、ライセンスを受けたすべてのサードパーティツールでオフラインのファブワイド分析も可能です。 製品概要 Discover Defect Softwareは、以前はDiscover Enterprise Softwareとして知られていましたが、生産環境に容易に統合できるソフトウェアソリューションです。Discover Defect Softwareは、欠陥、ソート、計測、ワイプ、電気など、工場に関連するすべての情報を、ビッグデータに対応した単一のソリューションに柔軟にまとめます。スピードとアップタイムは世界トップクラスです。 Discover Defect Softwareは、ユーザーが問題を迅速かつ正確に特定・解決し、既知の懸念事項を監視・警告できるようにすることで、何度も採算が取れるようになります。この製品は、スループットと歩留まりの両方を向上させると同時に、製造コストを削減するように設計されています。 Discover Yieldソフトウェアモジュールのパワーで、歩留まり分析能力を拡張します。Discover Yieldの特許取得済みのデータマイニング機能と高度な統計分析により、非常に洗練された対話型の根本原因分析が可能になります。Discover Yield Software は、データを深く掘り下げて、非常に特定が難しい系統的なプロセスの問題を明らかにする力を提供します。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。