自動試験装置 VATE

デジタルDC

* 33 MHz テストレート * 64 ~ 512 I/O チャネル * 32 Mキャプチャ＆フェイルログメモリ * 32 Mベクトルメモリ(チャネル毎) * PMU (チャネル毎) * 4〜16 DPSまたは64〜128 SMU * 16 ~ 128TMU * 16タイミングセットと2フォーマットセットをオンザフライで変更可能 * 1つのテストプログラムで複数サイトのテストが可能 * 最大16サイトの並列試験 * ユーザーフレンドリーなソフトウェアプラットフォーム * プローバインターフェース対応 CIS MEMSマイクロフォン 指紋照合 アプリケーション 自動検査装置(ATE) 機能テスト/DC/OpenShortテスト デジタルパターン生成/キャプチャ MEMS/SENSORデバイス試験