冶金サンプル分析
光学式マシンビジョン顕微鏡による
お客様の課題
- 金属の結晶粒と構造解析
- 生産工程の予知保全
- 機械部品の品質管理
- 金属故障の損傷評価
ソリューション
- イメージングモジュール コンパクトM (MVM)
- 持ち運び可能なスタンドとケースで小さなフットプリント
- 使いやすい無償のSW OptoViewer 2.0
ソフトウェア
- リング照明と同軸照明の一体型
- キャリブレーション不要の直接測定
- USB1本のケーブルソリューション
お客様にとってのメリット
- オールインワンのデジタルマイクロスコープ
- マイクロメートル/ピクセルの解像度と大きなFoV
- 高コントラストと色安定性
- 画像の再現性
- オープンSWアーキテクチャ
- 容易な機械組み込み
- 明視野と暗視野を1台で実現
製品番号: IC10-05033CU3101
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